X-флуоресцентни спектрометри от серията EDX，Разпръскване на енергиятаXЛъчев флуоресцентен спектрометърПрилага се заRoHS & WEEEАнализ на инструкциитеРазлични измервания на дебелината на металните мембрани, измерване на дебелината на промишлените покрития, инструкции за халогениClЕлементарен анализАнализ на състава на руда, суровини и т.н., магнитна магнитна среда и полупроводници и различни синтезиАнализ на златото и скъпоценните метали.
X-флуоресцентни спектрометри от серията EDXОсновни характеристики
●Обхват на анализираните елементиS-U

●Диапазон на концентрациите на анализираните елементи 2ppm—100%
●Непрекъсната стабилност8Часово измерванеRSD<0.25%
● ROHS/WEEEВреме за откриване100-120секунда

●Внос на електроохлаждане от САЩSi（Pin）Детектор

●Електрическо охлажданеSi（Pin）Детектор площ на кристала15mm2Разрешение<155eV
●Цифрова импулсна технология

●Отлично съотношение на върховете и изключително висока чувствителност към анализа на следите

● 50KV,50WСамозащитаX-Тръби за лъчи

●Технология за интелигентно превключване на композитни филтри

Характеристики:

☆Прецизен анализ на хлора и оловото в боите

☆ИнтеграцияFPЗаконът,AlphaКоефициент, метод на опита

☆Безопасно свързване, радиационен дизайн с мека и твърда комбинация

☆Лесна работа с един клик

☆Интелигентен софтуер за автоматична настройка на параметри и избор на филтри

☆XЗащита от свръхтепература на лъчевите тръби

☆Електронно охлаждане без течен азот и други консумативи

Технически характеристики